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德國Elektrophysik測厚儀

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MiniTest 4100測厚儀上海現(xiàn)貨代理（主機(jī)+探頭）

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MiniTest 4100測厚儀上?，F(xiàn)貨代理（主機(jī)+探頭）

1、參數(shù)

應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))99
每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算，并可設(shè)寬容度極限值)99
可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù)500
數(shù)據(jù)總量10000個
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)

2、應(yīng)用：

德國EPK公司MINITEST 4100用于測量以下覆層（覆層包括涂層，鍍層等）：

鋼鐵基體上的非磁性覆層
有色金屬上的絕緣覆層
絕緣基體上的有色金屬覆層

3、產(chǎn)品特點(diǎn)：

適用于多種應(yīng)用的耐磨探頭
具有幾乎無限壽命的耐磨探頭
測量值的存儲與評估
特殊的粗糙表面和校準(zhǔn)標(biāo)定函數(shù)未知涂層(CTC方法)
所有的探頭都配備了耐磨桿，確保使用壽命長，也適用于磨料基板。
所有型號均可配所有探頭
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計算機(jī)
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)

4、探頭

探頭是涂層測厚儀的核心部件。為了滿足我們客戶的各種要求，zui常見應(yīng)用的探頭是我們系列產(chǎn)品的一部分。對于特殊的測量任務(wù)，可提供客戶制造的探頭。
ElektroPhysik探頭是現(xiàn)代生產(chǎn)技術(shù)以及60多年來表面處理技術(shù)的結(jié)合。

智能探頭
ElektroPhysik開發(fā)了一種“智能探頭”的概念，如果測量任務(wù)改變，允許與連接到相同規(guī)格的另一個探頭一起工作。
探頭的特性曲線存儲在探頭連接器中，并由儀表的微處理器進(jìn)行評估。因此可以編程給客戶應(yīng)用的特性曲線，例如， G。特殊合金，特殊幾何形狀等。

外層保護(hù)
為了生產(chǎn)其探頭，ElektroPhysik使用來自鐘表領(lǐng)域的精密生產(chǎn)程序。為了確保長壽命，探頭通過結(jié)構(gòu)特征進(jìn)行保護(hù)，因此即使在使用多年后也能避免磨損痕跡。使用材料例如紅寶石，硬金屬或用于工具制造的特殊合金保護(hù)接觸測量桿免受磨損。測量極的表面被拋光，因此提供甚至在敏感的測量對象上測量，而不留下任何痕跡。

新開發(fā)的通用探頭
特別是對于在鋼鐵和有色金屬上進(jìn)行測量的用戶，ElektroPhysik提供新開發(fā)的FN通用探頭，它只用一個探頭解決測量任務(wù)

彎曲表面的磁通線粗糙表面的磁通線

特殊功能
當(dāng)在彎曲表面上進(jìn)行測量時，探針可以通過校準(zhǔn)適應(yīng)待測量物體的幾何形狀。
因此消除了幾何形狀對測量值的影響。
當(dāng)在粗糙表面上進(jìn)行測量時，MiniTest的特殊功能用于補(bǔ)償由于物理原因?qū)е碌妮^高測量不確定性。
對于在高溫表面上的測量，可以使用特殊的探頭，其可以短時間用于高達(dá)350℃的溫度。

5、主機(jī)技術(shù)參數(shù)

MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))99	10
每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算，并可設(shè)寬容度極限值)	10
可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù)	500
數(shù)據(jù)總量	10000
MINITEST統(tǒng)計計算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar	√
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	√
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar	√
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	√
存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值	√
顯示并打印測量值、打印的日期和時間	√
其他功能
設(shè)置極限值	√
連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別*大*小值	√
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)	√
連續(xù)測量模式中顯示***小值

6、探頭參數(shù)

所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能

探頭		量程	低端分辨率	誤差	zui小曲率半徑(凸/凹)	zui小測量區(qū)域直徑	zui小基體厚度	探頭尺寸
磁感應(yīng) 法	F05	0-500μm	0.1μm	±(1%±0.7μm)	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62mm
	F1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x170mm
	F3	0-3000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F10	0-10mm	5μm	±(1%±10μm)	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46mm
	F20	0-20mm	10μm	±(1%±10μm)	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66mm
	F50	0-50mm	10μm	±(3%±50μm)	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70mm
兩用	FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm N50μm	φ15x62mm
	FN1.6P	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面	30mm	F0.5mm N50μm	φ21x89mm
	FN2	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm N50μm	φ15x62mm
電渦流法	N02	0-200μm	0.1μm	±(1%±0.5μm)	1/10mm	2mm	50μm	φ16x70mm
	N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±(1%±1μm)	2.5mm	2mm	100μm	φ15x62mm
	N1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	2mm	50μm	φ15x62mm
	N1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x170mm
	N10	0-10mm	10μm	±(1%±25μm)	25/100mm	50mm	50μm	φ60x50mm
	N20	0-20mm	10μm	±(1%±50μm)	25/100mm	70mm	50μm	φ65x75mm
	N100	0-100mm	100μm	±(1%±0.3mm)	100mm/平面	200mm	50μm	φ126x155mm
	CN02	10-200μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面	7mm	無限制	φ17x80mm

篤摯儀器（上海）有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實(shí)驗室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè)，用于評價材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能，推動著精良制造技術(shù)的精益求精。

注：	F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。 N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

：張磊

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